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Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
产品特性:菲尼克斯膜厚仪
产品简介:1.德国菲尼克斯公司制造
2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
3.同屏显示统计数据
4.可存储前200测值
5.可测铁基体上涂镀层
6.基体上涂层,量程1500μm
详细介绍:
Surfix F外置探头铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
特点:1.德国菲尼克斯公司制造 2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度 3.同屏显示统计数据 4.可存储前200测值 5.可测铁基体上涂镀层 6.基体上涂层,量程1500μm 7.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光 8.有红外可接PC及打印机
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